抗表皮基底膜抗体测定是诊断类天疱疮的的特异性标志抗体。用间接免疫荧光检查，诊断类天疱疮患者血清中有抗表皮基底膜抗体，主要是IgG。
间接免疫荧光法实验原理：将荧光素标记在相应的抗体上，直接与相应抗原反应。
第一步，用未知未标记的抗体(待检标本)加到已知抗原标本上，在湿盒中37℃保温30min，使抗原抗体充分结合，然后洗涤，除去未结合的抗体。
第二步，加上荧光标记的抗球蛋白抗体或抗IgG、IgM抗体。如果第一步发生了抗原抗体反应，标记的抗球蛋白抗体就会和已结合抗原的抗体进一步结合，从而可鉴定未知抗体。
IIF法(间接免疫荧光法)：阴性。
阳性：
大疱性类天疱疮(阳性率70%)，妊娠疱疮（阳性率20-25%，使用补体固定的间接免疫荧光技术，阳性率可提高到90%），瘢痕性 类天疱疮（阳性率10-30%，多为低滴度）。
注意：抗体滴度与疾病的活动性不相关。获得性大疱性表皮松懈症及大疱性系统性红斑狼疮者也可为阳性。